随着5G通信的启动，产业链上游的PD芯片需求量大增，导致PD芯片产线封测产能扩大，传统的单一参数测试系统已经不能满足产线的要求。   APS1500-ALL PD芯片IV,光响应，电容测试系统的退出解决了这个难题。系统采用一体机结构，集成测试仪器、半自动探针台、点测器、ATE软件、图像识别等技术，真正解...

微电子本科教学平台主要为微电子专业学生培养半导体器件物理的参数特性测试而设计的实验。通过测试Wafer裸芯片Die，学生可以掌握基本的MOSFET,BJT,DIODE等器件的电学性能及工作原理。可以测试参数有：IV参数：BVdss,Vth,Vgs,Ids,Rds输入输出特性曲线，转移曲线等CV参数：Cox,t,Ciss，C-V特性曲线，QSCV,HFCV曲线，掺杂浓...

   重庆石墨烯研究院研究院引进国外知名学者团队研发石墨烯器件特性，测试需要用到半导体分析仪得到了研究员Chaker Tlili的认可，他说之前他用过Agilent的 4156C半导体分析仪，B1500A半导体分析仪是升级替代产品，同时软件内置的同步SMU扫描功能可以解决双器件同步IV特性的扫描问题。   &...

   Quick Test是我们公司根据高校实验室测试测量的需求设计的一套软件平台，基于这个平台可快速完成实验室现有的仪器组合实现测试测量任务。材料及器件的阻抗、变温、图像测试、高速数据抓取。      软件可控制仪器仪表例如函数发生器、示波器、半导体分析仪、LCR表、阻抗...

    芯片测试必备设备之手动探针台，集成单筒显微镜带高清1080PCCD相机，更大变焦后可清晰观看1微米光刻晶圆ID号。配置三维磁吸探针座，1微米移动。        加载同轴LED光源，实现高清芯片内部电路图像对比度，可观察芯片之美。探针针尖可小于1微米对芯片...