SD-X7超声波测厚仪测量范围0.15-20mm

1、采用高频单晶探头，可实现超薄件测量的功能。

2、采用“回波-回波”超声测厚技术，实现穿越涂层测厚。

3、显示分辨力为0.001mm,量程：0.15 ~ 20mm。

4、液晶显示对比度可调128*64点阵LCD显示器且具有LED背光在各种光纤环境下使用。

5、可使用USB接口将数据传输到电脑上。

6、配备上位机软件，方便各项数据读取。

SD-X7超声波测厚仪​产品简介

本测厚仪采用回波-回波超声波回波测量原理，适用于超声波能以恒定速度在其内部传播，并能从其背面得到反射的各种材料厚度的测量。此仪器可对各种板材和各种加工零件作测量。可广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。面向不同的应用场合。