数字源表用于光耦特性测试实验

传统实验教学存在的问题

教学仪器老旧，故障率高，精度低，可重复性差；
教学Z用型仪表，功能单一，仪表复用率低，实验室占地面积大；
实验仪表台数少，导致实验课周期过长，与理论课的时间兼容性差；
操作傻瓜，对学生的动手操作能力培养意义不大；
个别实验内容已被时代淘汰，无法满足现阶段集成电路人才培养的需求；
BJT/MOS静态参数特性测试平台认准生产厂家武汉普赛斯仪表，详询一八一四零六六三四七六；普赛斯仪表实验平台是以工程教育专业认证为Y领参与高校专业建设，以信息化Y领构建学习者为中心的教育生态，培养集成电路硬件测试人才。为学生提供丰富的教学资源以及贴近现实的产业环境，支撑集成电路相关课程的教学与实训，且能进行项目开发和师资培训，打造集成电路人才培养实践中心，以培养高层次的工程实践能力强的毕业生，提高院校整体教学实力；

平台特色：

基于高精度通用仪表的微电子综合实验平台，提供多种实验测量环境；

采用一体化设计，集成了数字源表、LCR电桥、万用表、示波器等通用仪表；

贴合集成电路测试相关实验案例，支撑集成电路相关课程资源和理论教学；

全国产化仪表，符合当前国家政策，进口仪表有禁运风险； 

搭配丰富的测试夹具及实验教材，满足基础实验教学需求；

测试器件采用STO封装，即插即用，方便更换;

测试设备简单易用，接线简单，方便学生动手操作；

以基础平台为起点，可逐步升级，满足日益增加的实验室测试需求；

辅助老师编写教案，提高教学效率，降低课程开发的难度；

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