研发用闪存测试仪，领存科研版闪存测试仪NFA100-E

领存科研版闪存测试仪NFA100-E适合于企业闪存控制开发人员、高校教授及硕士、博士进行闪存研究、以及各种特殊单位进行闪存的安全性、可靠性研究的研发人员使用。企业、高校研究版本NFA100-E，zui多同时测试4片闪存芯片，主机连接：USB 2.0。NFA100-E是一套功能强大且极具灵活性的Nand Flash分析系统，它zui大限度地满足用户的对于Nand Flash的信息分析需求以及对这些信息的再处理需求,用户还可以通过API和脚本（script）来扩展任何自定义的测试或分析功能。

NFA100-E 闪存测试仪

NFA100-E是一套功能强大且极具灵活性的Nand Flash分析系统，它zui大限度地满足用户的对于Nand Flash的信息分析需求以及对这些信息的再处理需求,用户还可以通过API和脚本（script）来扩展任何自定义的测试或分析功能。

面向对象

NFA100-E主要面向：企业闪存控制开发人员、高校教授及硕士、博士进行闪存研究、以及各种特殊单位进行闪存的安全性、可靠性研究的研发人员。

技术指标

1、支持zui新制程3D Nand Flash，1x nm以及25nm，34nm，56nm制程Nand Flash；

2、支持SLC，MLC，TLC，eMLC；

3、支持8位和16位异步Flash；

4、支持同步，Toggle Flash；

5、支持Micron、Toshiba、Samsung、Intel、Sandisk，Hynix厂商所有常规Nand Flash；

6、支持TSOP48，BGA63，BGA100，BGA132，BGA152封装；

7、可以定制开发非常规封装、自定义封装Nand Flash。

性能指标

1、通过USB2.0接口测试设备内部连接工控电脑，计算由测试主板FPGA完成，对工控电脑资源消耗低，USB2.0仅仅是将计算结果反馈给软件，因此不会对性能产生任何影响；

2、测试效率主要取决于所需要测试Nand Flash的接口性能以及所需测试项目的内容，如：测试P/E cycle，所需时间完全取决于测试Block数量、测试pattern，及Nand Flash接口的性能。

特殊用途

1、测试客户自主开发的BCH ECC或者LDPC强度；

2、测试Read Retry

3、对Nand Flash进行电压拉偏测试；

4、对Nand Flash进行物理烧毁测试；

基本配置

1、显示屏：12.1″ TFT LED 电阻式触摸屏；

2、芯片组：Intel®  Bay-trail J1900 2.0GHz；

3、内存：2GB

4、存储：32GB Renice SSD；

5、操作系统：Windows 7

6、I/O 接口：3个USB2.0, 1个USB3.0；4个 RS232; 1个RJ45 千兆网口； 1个显示接口；

7、重量：20公斤

NFA100提供了两种不同级别的用户开发平台 

1. API

通过API,各种对NAND Flash的操作及设定,用户都可以通过调用NFA100提供的库程序在自己的软件中方便的实现自己需要的功能。

2.脚本（script）

NFA100提供了一套自己的编程语言，用户可以在NFA100的环境（界面）下执行自定义的script。