瑞士DIAVITE表面粗糙度仪DH8数显粗度仪

DH-8

详细规格

♦厂房与检验中心通用型高精度表面粗度计

♦自动校准

♦可记忆50组量测值

♦5种量测长度、可供0.5与15.0mm之间自由选择

♦可选择量测速度

♦可校准高达8组测头

♦8种测量程序

♦可选择多种类型测头完成绝大部分量测作业，包括客户zhi定类型的量测作业

♦简单易用quan方位多国语言选单导引

♦量测值超出设定的容许裕度时可提供公差指示

♦提供lt、lc、R按键锁，避免任何设定值于量测期间意外变更

♦USB输出供资料传输

♦可选用高阶软件程序DIASOFT

♦为因应无轨式测头应用所需，具有多样化配件何供选择

DH-8选配

轮廓量测

DH-8现可提供精密量测轮廓选配。需采用特殊轮廓量测测头并搭配特殊软件。

特性

量测范围X:0.5~15.0mm

量测范围Z:4mm

追踪角度:下降齿腹可达88°上升齿腹可达77°

光学量测

量测更多表面:垂直步阶、高长宽比、凸点与洞孔、易碎、软质、磨砂表面、透明、反光、不透明、多材质面

特性

量测头:CLA-400

量测范围:400 um

工作距离:5 mm

重复性:2 mm

垂直解析力:0.025 nm

光点尺寸:7 um

倾斜:±30°

COMPACT II

♦量测与指示单元(主机)，配备图形显示器与四只功能键

♦有轨式测头VH测鉆或有轨式/无轨式VHF测鉆

♦测鉆已整合于主机，亦可利用连接线至主机(VH选配)搭配台座进行测或到达困难测量点

♦侧向长度配置明确切断点

♦可记忆15组量测轮廓

♦自动校准

♦资料输出USB界面

♦选配软件DIASOF可将资料汇入计算机执行进一步处理作业

♦配备充电式电池供行动应用

♦搭配使用相同的测鉆与测头，DIAVITE DH-8亦可达到相同的准确度

技术资料 DIAVITE COMPACT II 与 DH-8

参数 ISO/DIN : Ra、Rz(DIN)、Rmax、R3z、Rt、Rq(RMS)、Rk、Rp、Rv、Rpk、MR1、MR2、Rpc、C1、C2、接触面积百分比、C0、Cz

JIS:Ra(JIS)，Rz(JIS)

ISO 12085:R，AR，Rx

搭载选计算机软件时的其他参数

量测范围

Ra,Rq:0-20.00 um 0-800 uin

所有其他量测值:0-350.0 um 0-1400 uin

解析力

Ra,Rq:0.001 um

所有其他量测值:0.01um

输出 USB界面 DH-8:选配蓝牙

溼度 80%，无凝结水

语言 德文、英文、法文、意大利文、西班牙文、波兰文

追踪系统 类比霍尔交应技术搭配高线输出信号

钻石尖 半径:5 um 90° (标准)或2 um 60° (选配）

追踪轨 25mm (标准测头)

静态量测力 Stylus<0.5mN

静态循迹力 Skid<0.15N

追踪速度 COMPACT II :0.5mm/s DH-8:0.25，0.5 und 1.0 mm/s

倒退速度 1.0 mm/s

马达单元 VH(有轨式测头)或VHF(所有有轨式及无轨式测头)

主机尺寸 COMPACT II:140x75x60mm DH-8:245x130x78mm

马达单元尺寸 约20x33x136 mm (含支撑套)