CIT-3000SDD X荧光分析仪

一、应用领域

有色、黑色冶金、矿山样品分析，水泥全元素检测等。

二、性能特点：

♦　样品平台自动升降，工作十分方便； ♦ 样品盘自动旋转，测量面积更大，并能大限度的消除颗粒误差和不均匀误差； ♦　抽真空测量，可以更大限度的提高测量元素的检测限，有利于多金属测量及其他轻元素测量； ♦　先进的模块化设计理念，保证了仪器后续的高扩展性； ♦　采用低功率X光管端窗前直径更大，对样品具有更好的激发效率； ♦　更先进的Superfast SDD电制冷半导体探测器，分辨率和计数率更高，有利于要求更高或更复杂的样品分析。

三、仪器技术指标

（1）测量范围：1-40keV； （2）可分析元素范围：Na-U； （3）分析含量范围：1ppm； （4）分辨率：优于127eV； （5）低检出限：Pb≤5ppm； （6）工作环境温度：0-40℃； （7）工作环境相对湿度：≤80%（不结露） （8）测量时间：10-2550s（时间可调） （9）输入电源：AC 220V ±10%，50Hz； （10）额定功率：300W； （11）探测器类型：更先进的Superfast SDD探测器； （12）500万像素的CCD摄像头，可有效的实现观察测试区域状况，并拍下物料照片，可作为检测报告的组成部分； （13）仪器尺寸：600(W)×570(D)×570(H)mm （14）样品腔尺寸：样品腔：300300100mm （15）重量：约100Kg