CIT-3000SMK能量色散X荧光分析仪

仪器概述

针对矿山尾矿中微量银元素测定的技术难题，四川新先达测控技术有限公司提出了一种基于超短光路原理的能量色散X荧光能谱快速检测方法。该方法可提高元素测量分辨率、提高样品分析效率、降低光管功率、延长仪器使用寿命。该仪器能谱系统优化了滤片以及探测器屏蔽物等设计，达到微量银元素的检测要求。在实际尾矿测试中，银的检出限可达0.1mg.kg-1。

实物图

测量原理图

技术参数

仪器供电：AC220V±10%，50Hz±0.2Hz；

Ø X光管管压：0-65kV可调；

Ø X光管管流：0-1mA可调；

Ø 探测器：SDD探测器,分辨率优于135eV(@5.89KeV)；

Ø 整机分辨率优于89eV(@5.89KeV)；

Ø 校准方式：采用标样校准曲线；

Ø 测量对象状态：粉末压片；

Ø 仪器额定功率：100W；

Ø 工作环境温度：0-40 ℃；

Ø 环境湿度：≤80%；

Ø 检出限：0.1ppm；

Ø 精密度：≤5%；

Ø 仪器尺寸：500(D)Ï440(W)Ï340(H)mm；

Ø 仪器重量：≤50kg；

Ø 检测时间：2~5分钟定量测试。

性能特点

Ø 采用目前先进的电制冷硅漂移Fast-SDD半导体探测器，分析元素多，分辨率高；

Ø 采用全数字化谱分析技术，计数率高，无漏记，稳定性好；

Ø X光管激发样品，无放射性，无毒无污染，取得国家环保部门安全豁免，安全可靠；

Ø 独特的超短光路设计，提高元素测量分辨率，提高样品了分析效率，降低了光管功率，延长了仪器使用寿命；

Ø 微量银元素的检出限可达0.1ppm；

Ø 开放式工作曲线标定平台，可量身定做物质的分析和控制方案；

Ø 全中文的windows应用软件，操作简单；

Ø 人性化设计，一体化结构，可适应不同环境，24小时连续工作，故障率低。

Ø 严格的数据库管理系统，支持数据的历史查询；

实测谱图