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途度(上海)检测科技有限公司

光谱仪、相控阵、超声探伤仪、内窥镜

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奥林巴斯VantaiX在线X射线荧光(XRF)分析仪 材料自动分 析

产品价格600000.00元/套

产品品牌OLYMPUS

最小起订≥1 套

供货总量10000 套

企业旺铺http://qd18012194906.zhongshang114.com/

更新日期2022-11-30 17:45

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商品信息

基本参数

起订:

≥1 套

供货总量:

10000 套

有效期至:

长期有效

产品特性:

自动分析

是否进口:

产地:

美国

加工定制:

型号:

VANTA IX

类型:

矿石元素分析仪器

测试范围:

多元素

测量时间:

1s
详细说明

Vanta iX在线XRF分析仪可以对材料进行自动分析


保持生产过程高速运行

奥林巴斯Vanta iX在线X射线荧光(XRF)分析仪通过对生产线上的产品进行自动材料分析和合金牌号辨别,让用户对自己的产品充满信心。

  • 进行实时过程监控和100%无遗漏检测,并提供即时结果

  • 全天时、全天候(24/7)运行

  • 经过配置,可提供通过/失败结果、准确的合金牌号,以及材料的化学成分信息


在管材、棒材和坯材等金属制造过程中对产品进行100%无遗漏检测

对于采用工业4.0方案并对生产过程实施全天时、全天候(24/7)控制以采用通过/失败分析方式验证合金的企业来说,可以使用Vanta iX分析仪对制造过程中的棒材、坯材、管材,以及机械加工零件和定制部件进行材料验证和批次/炉号控制。使用Vanta iX分析仪对产品进行自动化检测增加了成品的竞争优势,因为可以借此证明材料经过了100%的检测和验证。


通过扫查和监控,完成采矿业中的矿石品位控制

在地质选矿和采矿方面,Vanta iX分析仪可以对岩芯进行扫查,对传送带上的矿石进行分析,并提供实时结果,以监控选矿和采矿过程中发生的变化,并确保矿石品位的一致性。在对传送带上的矿石进行分析的过程中,分析仪可以为精矿提供配矿验证和选矿验证。


通过快速准确的元素分析,完成连续的质量控制

与所有Vanta电子产品一样,Vanta iX分析仪不仅运行速度快,还可以提供可靠、可执行的结果,从而可指导关键性决策的制定。

  • 高分辨率:辨别多种合金牌号,包括轻元素和重元素

  • 快速提供准确的结果:分析仪的电子元件具有可提供高检测通量,稳定性强,及高计数率等特性

  • 高效率:配备了硅漂移探测器(SDD),并采用了广受好评的Axon技术(所有Vanta分析仪都采用了这种技术)


易于集成到多种生产系统中

Vanta iX分析仪用途广泛,结构紧凑,易于安装:使用其两侧的安装孔就可将其安装到机器人或其他系统上。没有外部控制箱,因此可以通过Vanta Connect API(应用程序编程接口),或者通过PLC(可编程逻辑控制器)和离散导线轻松控制分析仪。


接口选项:

  • 以太网(RJ-45),可启用以太网供电

  • USB

  • 离散I/O(16针)

  • 辅助DC电源


坚固,可在制造环境中长时间正常运行

Vanta iX分析仪可以承受住生产设备的剧烈振动、强烈的电磁噪声和声学噪音,并具有防尘和防潮的特性,从而可提高检测的可靠性,增加正常运行时间。

  • 振动测试(MIL-STD)

  • 符合IP54评级标准

  • 可以在–10 °C至50 °C的温度范围内连续工作

内置散热器可以降低分析仪内部的温度,如果需要进一步冷却,还可以通过风扇连接点连接一个风扇。无需使用工具,就可以更换分析仪的窗口,从而实现快速维护的目标。


主要技术规格 

外型尺寸(宽 × 高 × 厚)

10   cm × 7.9 cm × 26.6 cm

重量

2.4公斤

激励源    X射线管:

铑或钨阳极靶材(应用优化),5 ~ 200 µA

MR型号:8 ~ 50 keV(4 W)

CW型号:8 ~ 40 keV(4 W)

主光束滤光片

8种滤光片位置,根据选择的光束和方式自动匹配。

探测器

MR型号:大区域硅漂移探测器

CW型号:标准硅漂移探测器

电源

通过以太网(PoE+)或者18 V AC电源适配器供电

可检测元素范围

取决于方式:

MR型号:从镁(Mg)到铀(U)的元素

CW型号:从钛(Ti)到铀(U)的元素(使用标准窗口并经过校准)

压力校正

内置气压计,用于海拔和空气压力的自动校正

IP评级

IP54

操作环境

温度范围:10 °C ~ 50 °C,可连续工作

湿度:

相对湿度为10 % ~ 90 %,无冷凝

操作系统

Linux

 

应用软件

奥林巴斯专有的数据采集和处理软件包


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