维修 是德Keysight 4082A WAT参数测试系统

4080 系列参数测试系统

4080 系列：参数测试系统总体解决方案

Keysight 4080 系列提供了丰富的测量功能，可以充分满足基本参数测试的要求。 您可以轻松执行 Vth、Ids、Idoff、Cox 等直流和电容测量。 4080 系列可支持三种类型的 SMU（源表模块）进行直流测量。 数字电压表（DVM）、频谱分析仪和 LCD 表等多种其他仪表选件可进一步增强测量功能。

• 参数测试系统兼容 SPECS 和 4070 系列，为业界树立测量新标杆

• 异步和同步并行测试功能可将吞吐量提升最多 50%

• 更灵活的配置：标准小电流和超小电流（12 至 48 引脚）

• 符合 SEMI 标准，有助于实现测试自动化

• 采用 Linux 操作系统，成本更低

• 完全整合的参数测试解决方案，可获得全方位的服务和支持

4080 系列包含两个型号，可根据您的测试要求进行配置。 4082A 参数测试系统可以对成熟、先进的半导体器件执行基本参数测试，并提供了同步和异步并行测试功能。 4082F 闪存单元参数测试系统支持使用高压半导体脉冲发生器（HV-SPGU）模块和 81150A 脉冲发生器来表征闪存单元技术。

4082A—符合行业标准的参数测试系统

如果您使用的 4070 系列测试仪不附带任何服务和支持协议，可通过升级至 4080 系列获得专业服务和支持。

这是 4070 系列测试仪最简单、最方便的升级方式，可以保证 4070/SPECS 程序兼容性和数据相关性。

• 提供中功率（MPSMU）、大功率（HPSMU）和高分辨率（HRSMU）三种类型的源表模块任您选择。

• 同步和异步并行测试可以通过 VMT（虚拟多测试头）软件提高测试吞吐量

• 1 fA 和 0.1 uV 测量分辨率

• 可选 HS-CMU（高速电容测量单元）

• 可选环形振荡器测量

4082F—闪存单元参数测试系统

全面的参数测试功能，结合 SPGU（半导体脉冲发生单元）主机和高压 SPGU 模块，可以评测 NAND 闪存单元的写入/擦除特性。

• 在多达 10 个通道上内置脉冲 SPGU，可进行快速、精准的测量

• 可以选择成本更低的脉冲发生器――具有多达两个通道的 Keysight 81150A

深圳市岑德科技有限公司：主营→半导体参数分析仪。

公司专业：维修、安装、校准、出售以下设备及各型号模块/板子。

Agilent/Keysight P9001A、P9002A、PX9002A并行参数测试系统→ 模块/板子

Agilent/Keysight 4070 / 4080系列参数测试系统→ 模块/板子

Wat80上的所有模块——如：

HRSMU  

HPSMU  

MPSMU 

HR Pinboard 

pinboard (普通版/高分辨率版)

其它等等……