大功率激光器寿命测试设备

目前，大功率激光器芯片在大电流工作连续输出时普遍面临着各种难点：

  1、激光器芯片的测量一般都要看LIV数据，光电参数受热的影响比较大，随着温度的升高，芯片的阈值电流增加;

  2、激光器芯片直流、宽脉冲下的测试结果不准;

  3、大功率激光器抗浪涌冲击能力差，要求脉冲电流无过冲，浪涌冲击小;

  4、电源的波动会影响激光器的寿命，同时会造成光功率不稳定及器件发热不稳定等。

  创新技术突破，国产化优性价比

  激光器老化测试系统解决方案

  基于帅先国产化数字源表(SMU)的技术开发实力，以及多年来产品覆盖国际通信及半导体头部用户的认可和应用研究，武汉普赛斯针对千瓦级大功率半导体激光器芯片需要使用窄脉冲大电流测试和老化、芯片发热严重等问题，创新开发推出一套通用性好、大功率、循环水冷的老化测试系统。产品具有大电流窄脉冲恒流特性好、电流稳定、抗干扰能力强，并具有防过冲、防反冲、反浪涌的稳压及恒流的双重保护电路等功能，为泵浦激光器的老化测试提供了一个完整的解决方案。实现多单元、G效率、自动监控并记录上传测试数据的一体化测试系统。详询一八一四零六六三四七六；

产品特点

单抽屉Z多支持16路8抽屉；

各通道互相独立；

电流回读，同步自动测量电压、光功率等数据；

加热膜加热，温控范围：室温～125℃；

电源抗浪涌设计；

收光装置水冷；

J对精度±1℃，不同DUT温度均匀性±2℃；

老化数据自动记录与数据导出；

技术参数     

产品型号：LDBIxx系列

尺寸（宽*高*深）：1093mm*2070mm*905mm

重量：＜500kg

系统电源：三相     380V/50Hz,防浪涌

工作模式：CW及QCW

脉冲宽度：100us～3ms

电压测量：0-100V

电压测量通道数：16通道

光电流测量：0-10mA

光电流检测通道数：1路，可支持16路分时复用

产品应用

大功率LED的LIV测试及产线批量老化

大功率激光器的LIV测试及产线批量老化

大功率半导体激光器芯片及泵浦激光器模块的稳定性及可靠性测试

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