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奥林巴斯涡流阵列探伤仪OMNISCAN MX 无需去除涂层的检测仪

产品价格250000.00元/套

产品品牌Olympus/奥林巴斯

最小起订≥1 套

供货总量10000 套

企业旺铺http://qd18012194906.zhongshang114.com/

更新日期2022-11-30 17:05

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商品信息

基本参数
起订: ≥1 套
供货总量: 10000 套
有效期至: 长期有效
产品特性: 涡流检测
是否进口:
产地: 加拿大
加工定制:
类型: 涡流探伤仪
型号: OMNISCAN MX
测量范围: 0-5
分辨率: 0.1
详细说明

OmniScan MX经过现场验证的、可靠的仪器

OmniScan MX是一款已经现场验证、性能可靠的仪器,其机身结构坚固耐用,可以在严酷、恶劣的检测环境中正常工作;现在世界上正在使用的OmniScan MX仪器有成千上万台。这款仪器紧凑、轻巧,使用两节锂离子电池供电,在电池满电量时,可以进行长达6小时的手动或半自动检测。


OmniScan MX仪器的8.4英寸显示屏可以实时显示高清彩色图像,在大多数光线条件下,操作人员都可以查看缺陷及其细微情况。用户可使用飞梭旋钮和功能键在仪器简洁、直观的界面上轻松浏览,也可以将USB鼠标连接到仪器,方便对检测数据进行分析。



一个平台、两款模块、三种技术:灵活适用性更强

为了满足更广泛应用的要求,两款模块都提供涡流检测(ECT)、涡流阵列(ECA)以及粘接检测(BT)C扫描技术。两款模块都与MXE(ECT/ECA)和MXB(BT C扫描)软件兼容;要做到这点,只需在各种技术之间进行简单转换,操作人员接受少许培训即可。



                                   
                                    

常规ECT                                                涡流阵列                                       粘接检测C扫描

    √                                                      不被支持                                               √

    √                                                           √                                                     √

支持大多数Nortec探头         支持32个机载通道;使用外置多            要求使用特殊适配器和扫查器

                                            路转换器时,可支持64个通道



ECT4模块

ECA4-32模块


OmniScan MX AeroECA与ECT别无二致

覆盖范围广,扫查速度快,检出概率高

涡流阵列 (ECA) 技术融合了多种传统的桥式或反射式(驱动器-拾波器)探头线圈,以便在一次扫查检测中覆盖更大的范围。此外,每款ECA探头型号都经过精心设计,可在沿探头长度方向上的目标缺陷范围内保持很高的检出率。用户在使用OmniScan MX ECA探伤仪时,可以非常快的速度手动移动ECA探头进行检测,并借助彩色图像和归档功能,完成性能强大、效率很高的检测。


 


                     
单线圈:光栅扫查                                                    阵列探头:单行扫查


透过薄涂层进行检测

涡流检测(ECT)技术基于以下磁耦合工作原理:接近被测工件(铁磁性或非铁磁性的导电材料)的探头传感器(线圈)在被测工件中产生涡流,并在仪器的阻抗图中显示信号。使用涡流技术时,只要探头到金属的距离保持在合理的近距离范围内,一般为0.5毫米到2.0毫米,就可以透过薄涂层(如:漆层)探测到材料中的缺陷。


涡流阵列(ECA)和涡流检测(ECT)技术基于相同的基本原理(和物理学理论),因此也可以透过漆层进行检测,而且ECA技术还具有以下优势:覆盖范围大、扫查速度快、检出概率高,及可进行彩色成像。


 

透过薄涂层进行检测

涡流检测使用的探头为铜线绕制而成的线圈。线圈形状可以变化,以更好地适用于特定的应用。

  1. 交流电流在所选的频率下通过线圈,在线圈周围产生磁场。

  2. 当线圈靠近导电材料时,材料中产生感应涡流。

  3. 如果导电材料中的缺陷干扰了涡流的流通,则探头的磁耦合效果会发生改变。通过测量线圈的阻抗变化,可以解读缺陷信号。


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