相控阵腐蚀检测双晶线性阵列（DLA）探头 相控阵C扫描仪MX2

用于腐蚀检测的双晶线阵列DLA探头

用于腐蚀检测的双晶线性阵列（DLA）探头，与常规超声双晶探头相比，具有更多优势特性。这种相控阵解决方案可以提供更大的声束覆盖范围、更快的扫查速度，以及具有更高数据点密度的C扫描成像功能，从而可提高检测效率。与标准相控阵脉冲回波相比，这种新探头所采用的一发一收技术在腐蚀测量应用中可提供更好的近表面分辨率和点蚀探测能力，提高了临界性壁厚减薄情况的检出率。

得益于其内置灌溉和可更好地贴附于管道弧面的可更换式延迟块等新功能，双晶线性阵列（DLA）腐蚀探头现在可用于进行自动检测。

探头的优势和特性

• 可探测表面以下1毫米的缺陷

• 性价比较高的可更换式延迟块

• 内置灌溉

• 高温选项，可扫查热表面

• 声束覆盖宽度高达30毫米

• 用途广泛且调整迅速的系统，适用于直径从4英寸到平面材料的检测

• 坚固耐用的硬质合金防磨板，可保护楔块

• 碳钢材料典型的检测深度范围为1毫米到80毫米

• USB存储盘中的OmniScan配置文件（MX、MX2和SX）

OmniScan软件特性

• 侧视图、端视图和俯视图成像（B扫描、D扫描和C扫描）

• 完整的高分辨率A扫描存储

• 两个可配置的探测闸门

• 在OmniScan探伤仪或使用OmniPC软件的计算机中进行离线分析

新特性，新潜能

双晶线性阵列（DLA）腐蚀探头和OmniScan SX探伤仪的组合是一种经济实惠的检测选项。这种解决方案设置方便，操作简单：加载所提供的设置文件，核查校准情况，然后检测并记录数据。无需使用脉冲发生/接收（PR）仪器。

无论是使用编码器对某个区域进行手动扫查，还是使用MapROVER电动扫查器进行高速、全体积成像，双晶线性阵列（DLA）腐蚀探头都可以在光滑的表面上快速轻松地完成C扫描成像操作。创新型探头稳定系统与可更换式弧面延迟块和灌溉功能相结合，可在直径小至4英寸的管材表面提供优质的声束传播效果。我们还提供可检测温度高达150°C表面的双晶线性阵列（DLA）腐蚀探头的高温版本。

在自动检测中与MapROVER扫查器一起使用的DLA腐蚀探头。

双晶阵列一发一收技术

与双晶UT探头一样，双晶线性阵列探头包含一组发射晶片和一组接收晶片，这两组晶片被分别安装在以一定角度切割的延迟块的两部分上。这种配置生成在被测工件表面以下聚焦的声束，从而可大幅降低表面反射的波幅。而且还提高了近表面分辨率，可获得点蚀、蠕变损伤和HIC（氢致裂纹）等关键性缺陷的更高的检出率。

一发一收                                                                                             脉冲回波

与相控阵脉冲回波相比，一发一收技术仅生成非常小的界面回波，可提供更好的近表面分辨率。

碳钢管道上腐蚀缺陷的B扫描图像