奥林巴斯超声波测厚仪45MG 双晶探头 内部腐蚀的金属材料厚度测量

Olympus/奥林巴斯超声波测厚仪45MG对内部腐蚀的金属材料进行厚度测量

使用双晶探头

45MG测厚仪的一个主要应用是测量那些受到了腐蚀或侵蚀的管道、管子、箱体、压力容器、船体外壳及其他结构的剩余厚度。在这些应用中通常使用双晶探头。

• 用于标准D79X系列双晶探头的自动探头识别功能

• 当校准过程中出现双回波时，会发出双回波警告

• 回波到回波/穿透涂层选项可测量带有漆层和涂层的表面

• 高温测量：可测量温度高达500 °C的材料

B扫描成像（基于时间）

45MG测厚仪所提供的B扫描功能，可在屏幕上将实时厚度读数转换为横截面图像。这个标准功能非常有用，因为可观察到材料的厚度值随着探头的移动而发生的变化。探头一接触到材料表面，就会激活B扫描。冻结最小值功能用于显示已扫查区域的最小厚度值。可选45MG数据记录器最多可存储单个B扫描中的10000个厚度读数。

室内显示设置，B扫描模式

高温表面

45MG测厚仪配上D790系列探头（D790、D790­-SM、D790-RL和D790-SL），是测量高温材料（温度高达500 ºC）的理想选择，可获得稳定的厚度读数。45MG的零位补偿功能，通过补偿探头延迟块因热漂移而产生的温度变化，提高了在高温表面上进行测量的准确性。