奥林巴斯测厚仪45MG 单晶探头，塑料、金属、复合材料、玻璃、陶瓷

Olympus/奥林巴斯测厚仪45MG 对塑料、金属、复合材料、玻璃、橡胶及陶瓷材料进行厚度测量

45MG是一款配备有标准测量功能和软件选项的高级超声测厚仪。这款独具特色的仪器与奥林巴斯的所有双晶和单晶测厚探头相兼容，是一款集多种解决方案于一机的创新型仪器，可用于几乎所有测厚应用。

• 普通的测厚功能

• 涂层测厚仪功能

• 高温测厚功能

• 腐蚀测厚功能

• 结合单晶探头和波型，可以测量更薄材料的厚度
  

使用单晶探头

使用单晶探头可以准确测量金属、塑料、复合材料、玻璃、陶瓷及其他材料的厚度。我们提供多种频率、直径和连接器样式的单晶探头。如果用户要将45MG仪器与单晶探头配合使用，则必须购买单晶软件或高穿透软件选项。

• 在使用频率范围为2.25 MHz ～ 30 MHz的单晶探头时，单晶软件选项可显示分辨率高达0.001毫米的测量值。

• 高穿透软件选项用于测量玻璃纤维、橡胶及厚铸件等具有高衰减性的材料

• 测量厚度、声速或渡越时间

• 自动调用默认设置和自定义设置用于当前应用的功能简化了厚度测量操作

使用20 MHz延迟块探头测量薄塑料材料。                                     测量金属板因弯曲变形而变薄的情况。

使用V260-SM Sonopen探头对薄玻璃进行测量。                       可测量包括塑料、金属、橡胶、玻璃、陶瓷及复合材料在内的很多材料的厚度。

下面针对45MG结合单晶探头的应用做下介绍：

单晶选项

使用单晶软件选项，可以完成分辨率高达0.001毫米的精确厚度测量。可与范围在2.25 MHz到30 MHz的单晶Microscan探头相兼容。可测量以下材料和产品：

• 大多数薄材料和厚材料

• 壁厚薄如0.08毫米的塑料瓶、管、管道及薄片材料

• 壁厚薄如0.10毫米的金属容器、钢卷材、机加工部件

• 汽缸孔、涡轮叶片

• 玻璃灯泡、瓶子

• 薄壁玻璃纤维、橡胶、陶瓷及复合材料

• 曲面部分或内圆角半径较小的容器

单晶高穿透选项

使用这个选项可在使用低频单晶探头（低到0.5 MHz）的情况下，测量橡胶、玻璃纤维、铸件及复合材料等较厚或声波衰减性较强的材料。这个选项包含单晶选项。

• 大多数较厚或声波衰减性较强的材料

• 厚金属铸件

• 厚橡胶轮胎、履带

• 玻璃纤维船体、储罐

• 复合材料板

• 对于频率范围为0.5 MH到1.0 MHz的探头，分辨率为0.01毫米